Толщиномер Константа Ш2

Толщиномер Константа Ш2 представляет собой прибор для измерения толщины покрытия разрушающим методом. 

Измерение толщины одно- и многослойных, одно- и многокомпонентных покрытий, полученных по технологиям CVD, PVD, плазменного напыления, окислительного анодирования, ионного напыления или ионного травления, покрытий, нанесенных химическим или гальваническим осаждением, полимерных покрытий, лаков, красок и других видов твердых покрытий толщиной от 1 до 500 мкм, нанесенных на твердое основание.

Принцип действия

Измерение основано на определении геометрических размеров сферы («сферического микрошлифа»), образованной при абразивном истирании покрытия и, частично, основания стальным вращающимся шаром при добавлении в зону контакта абразивной суспензии. Шар имеет точки опоры – на вращающемся приводном валу и образце.

В месте контакта шара с покрытием образуется микрошлиф сферической формы, на котором наблюдаются две характерные зоны: зона износа покрытия и зона износа основания. После проведения истирания образец исследуют с использованием измерительного микроскопа — измеряют диаметры микрошлифов в покрытии (в слоях покрытия в случае многослойного покрытия) и основании. Измеряют диаметр шара. Полученные результаты измерений подставляют в формулу для расчета толщины покрытия (толщины каждого слоя покрытия в случае многослойного покрытия).

Отличительные особенности

• возможность определения толщины каждого из слоев многослойного покрытия
• возможность определения толщины покрытий на плоских, цилиндрических и сферических поверхностях
• возможность проведения измерений как на образцах, так и на изделиях
• минимальная зона контроля – не более 2-5 мм в диаметре (в зависимости от диаметра шара)
• возможность использования в лабораторных и в производственных условиях
• простота и надежность конструкции
• измерения осуществляются по методике измерений, внесенной в федеральный информационный фонд по обеспечению единства измерений

Технические характеристики

По дополнительному заказу возможна доукомплектация прибора следующими аксессуарами и принадлежностями:

• измерительный микроскоп (является необходимым для проведения измерений!)
• персональный компьютер с предустановленным программным обеспечением для проведения измерений
• штатив для микроскопа
• предметный стол с микроподвижками
• объект микрометр типа ОМО (с поверкой или калибровкой по запросу)
• штатив для возможности проведения измерений на крупногабаритных изделиях
• дополнительные истирающие шары и абразивные суспензии